Analisi quantitative
L'analisi quantitativa permette di valutare le concentrazioni degli elementi che compongono il campione in esame (minerale/vetro). A tale scopo, le intensità dei raggi X emessi dal campione in esame vengono confrontate con quelle emesse dagli standards di riferimento per i quali sono note le concentrazioni degli elementi che si vogliono misurare.La concentrazione apparente (Cappx sam) di ogni elemento misurato "x" è data da:
Cappx sam = Cx std (Ix sam / Ix std) dove:
Cx std = concentrazione dell’elemento "x" nello standard,
Ix sam = intensità dell'elemento "x" nel campione
Ix std = intensità dell'elemento "x" nello standard.
Si assume che le misure dello standard e del campione sia state fatte nelle stesse condizioni strumentali.
Il valore calcolato Cappx sam verrà corretto per l’effetto della composizione della matrice all’interno della quale l’elemento “x” si trova. Questa correzione da apportare dipende dal fatto che:
a) la massa penetrata dai diversi elementi non è costante (correzione stopping power);
b) parte degli elettroni incidenti sfuggono dalla superficie del campione dopo essere stati deflessi, e quindi non vengono rilevati (correzione di backscattering);
c) i raggi X vengono attenuati dopo avere attraversato per una certa profondità il campione (correzione per assorbimento);
d) l’intensità dei raggi X viene aumentata per effetto della fluorescenza di altri raggi X generati nel campione (correzione di fluorescenza).
INCA energy utilizza come correzione dell’effetto di matrice, la procedura XPP che permette di lavorare con ottimi risultati in diverse condizioni rispetto ad altri metodi quali ZAF e Phi-Rho-Z.
Le analisi, automaticamente corrette e ricalcolate dal software INCA, possono essere facilmente visualizzate e esportate.
